作品介绍

国际贸易的技术溢出


作者:李小平      整理日期:2018-11-21 11:08:18


  促进技术进步的全球R&D支出和创新活动主要集中在少数几个发达国家,但是技术进步并不局限于这些发达国家内部。因此,国际技术溢出问题就成为理论界的一个研究热点。本书主要分析了以下几个问题:国际贸易技术溢出的机理如何?中国是否从国际贸易中获得了技术溢出?中国怎样从国际贸易技术溢出中获得更大的收益?
本书的创新
首次运用国际R&D溢出回归方法研究了中国工业行业的国际贸易技术溢出问题。
从吸收能力的角度,分析了国际贸易技术溢出的门槛效应,发现出口的正门槛效应和进口的负门槛效应同时并存。
运用DEA方法,分析了国际贸易的技术溢出对行业的生产率增长的影响。
运用VECM模型,检验了中国国际贸易和技术进步的长短期因果关系。





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国际贸易的技术溢出的作者是李小平 ,全书语言优美,行文流畅,内容丰富生动引人入胜。为表示对作者的支持,建议在阅读电子书的同时,购买纸质书。

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